NANO PROFILER
제품 설명
간섭계를 활용한 3D 스캔 및 검사
Z축 단차 측정 및 X,Y Dimension 측정 지원
ODB 파일을 활용한 자동 레시피 작성 지원
제품 특장점
제품 특장점
제품 화면
제품 사양
항 목 |
세 부 항 목 |
사 양 |
3D 검사 모듈 |
카메라 |
2D RGB, 2/3” (2448x2048 Pixels, 20~60fps) |
광학 분해능(um) |
0.34 (20x 렌즈 기준) |
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렌즈 |
Confocal : 5x, 10x, 20x Interferometer : 20x |
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LED 광원 |
백색 (디폴트, 기본 수명 40,000 시간) |
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Z 이동 범위 |
40mm |
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Z 스테이지 직선성 |
< 0.5㎛/mm |
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Z 스테이지 분해능 |
5nm |
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최대 수직 측정 범위 |
PSI 20um, CSI 512um(x20기준), Confocal & Ai Focus Variation 34mm |
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스탭 높이 반복성 |
< 3nm |
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Vertical Resolution |
WSI 1nm, Confocal *(1) |
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샘플 반사율 |
0.05% ~ 100% |
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수직 측정 범위 |
PSI : 20(um), CSI : 512(um) (x20기준), Confocal : 34(mm) |
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스캔 시간(sec) |
10 (1 포인트, Z 범위 : 50um, x20 기준) |
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Turret |
6 Position, Motorized Auto Turret |
항 목 |
세 부 항 목 |
사 양 |
Recipe 작성 |
제품별 Spec. 등록 |
레시피 사용자 등록 |
기본 정보 입력 |
Tool No. / Lot No. / Model |
형식에 맞게 정보 입력 (또는 바코드 정보 호환 가능) |
측정 항목 |
3D 측정 |
프로파일을 이용한 폭, 높이, 거리 측정 지원 |
알고리즘 |
고객사 선택사항 (Option) |
공간 평면 기울기 자동 보정 및 노이즈 필터링 측정 항목에 대한 자동 수치 취출 (Option) |
검교정 방식 |
단차 : VLSI 국제 공인 표준 시편을 통하 검증 및 자동 교정 표면 조도 : 표준 시편을 통한 검증 및 자동 교정 |
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측정 결과 출력 |
Tool No. / Lot No. / 모델… |
사전 정의된 Raw Data로 출력 |
측정 방식 |
3D Confocal / Interferometer / Ai Focus Variation |
Confocal과 Interferometer, Ai Focus Variation 스위칭 검사 (샘플 특성에 맞는 광학계 및 알고리즘 선택적 적용) |
자동 정렬, 측정 |
정렬 패턴 자동 탐색 후 측정 위치 정렬하여 자동 측정 수행 |
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제어 방식 |
PC 제어 방식 |
모션 제어 및 검사 프로그램을 한 개의 프로그램으로 구현 |
CPU, RAM, HDD, Monitor |
CPU : Intel Core i7, OS : Windows 10 64bits, RAM : 32GB, HDD : 10TB, SSD : 512GB, Monitor : 24” |
항 목 |
세 부 항 목 |
사 양 |
외 형 |
검사기 크기(mm) |
1600 x 1650 x 1800 (가로 x 세로 x 높이) |
도장 |
무정전 분체 도장 |
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FRAME(스테이지 하부) |
각파이프 용접 구조물 |
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기구 구동 축 |
X/Y/Z 스테이지 (mm) |
600 x 550 x 40 </ |